株式会社レスターコミュニケーションズ

  • 会社情報target_blank
  • お問い合わせ
  • English
  • ホーム
  • 電子機器事業本部
  • 新着情報一覧
  • 第35回 エレクトロテスト ジャパン 出展のお知らせ

新着情報

第35回 エレクトロテスト ジャパン 出展のお知らせ

2018年01月11日

2018年1月17日(水)~1月19日(金)の3日間、

東京ビッグサイトにてネプコンジャパン2018の第35回 エレクトロテスト ジャパンに出展します。

 

開催展名:第35回 エレクトロテスト ジャパン

会期:2018年1月17日(水)~1月19日(金) 10:00~18:00 (最終日のみ17時まで)

会場:東京ビッグサイト

ブース:E30-4  会場案内図

URL: http://www.electrotest.jp/

出展製品:

Profilm3D <非接触3次元表面形状粗さ測定装置> ( Filmetrics )

F20 <光学式非接触膜厚測定装置> ( Filmetrics )

DAL-TL(薄膜誘電体測定装置) ( Schmid & Partner Engineering AG )

Optiscope-200 <応答速度・フリッカー測定装置> ( ELDIM )

極小光タイムドメイン電界/磁界プローブ TDS Probe system ( Schmid & Partner Engineering AG )

 

サンプルをお持ち戴ければその場でデモ測定をさせていただくことも可能です。

本展示会における測定対象項目は、薄膜誘電率測定、膜厚測定、表面形状粗さ測定、カメラモニタシステムなどのディスプレイ評価です。

 

ご多忙とは存じますが、ご来場いただければ、甚幸です。

何卒よろしくお願い申し上げます。

 

お問い合わせはこちら

電子機器本部 

TEL: 03-5781-5130

製品情報
環境計測機器・バイオ機器
EMC・アンテナ計測
オプトエレクトロニクス
SPEAG / ZMT
AV計測器
サポート・サービス
トータルサポート
高周波(EMC)製品サポート
SAR測定サービス
アンテナ3次元放射パターン測定サービス
材料測定 誘電率測定サービス
電磁界シミュレーション解析サービス
デモ/トレーニング
海外進出支援
VGEL(Shenzhen)Company Limited
新着情報
新着情報一覧
2019.05.08
日本地球惑星科学連合2019年大会(JpGU2019)出展のお知らせ
2019.04.01
電子機器事業の事業譲渡のお知らせ
2018.12.20
マイクロウェーブ展2018に出展致しました
  • お問い合わせ

(C) Copyright. Restar Communications Co.,LTD. All rights reserved.