第35回 エレクトロテスト ジャパン　出展のお知らせ

2018年1月17日（水）～1月19日（金）の3日間、

東京ビッグサイトにてネプコンジャパン2018の第35回 エレクトロテスト ジャパンに出展します。

開催展名：第35回 エレクトロテスト ジャパン

会期：2018年1月17日（水）～1月19日（金）　10:00～18:00 (最終日のみ17時まで)

会場：東京ビッグサイト

ブース：E30-4　 会場案内図

URL: http://www.electrotest.jp/

出展製品：

Profilm3D ＜非接触３次元表面形状粗さ測定装置＞ ( Filmetrics )

F20 ＜光学式非接触膜厚測定装置＞ ( Filmetrics )

DAL-TL（薄膜誘電体測定装置） ( Schmid & Partner Engineering AG )

Optiscope-200　＜応答速度・フリッカー測定装置＞ ( ELDIM )

極小光タイムドメイン電界/磁界プローブ　TDS Probe system ( Schmid & Partner Engineering AG )

サンプルをお持ち戴ければその場でデモ測定をさせていただくことも可能です。

本展示会における測定対象項目は、薄膜誘電率測定、膜厚測定、表面形状粗さ測定、カメラモニタシステムなどのディスプレイ評価です。