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第46回 結晶成長国内会議（JCCG-46）出展のお知らせ
2017年11月13日
11月27日（月）からコンコルドホテル浜松で開催されます、第46回結晶成長国内会議（JCCG-46）において、
CVD成膜プロセスの監視に有用でリアルタイムのデポジション率、膜厚、光学定数（屈折率と消衰係数）、
半導体と誘電体層の均一性を測定できる膜厚測定装置等の展示を致します。
名称：結晶成長国内会議（JCCG-46）
開催日時：
2017年11月27日（月）12:00-17:30
2017年11月28日（火） 9:30-17:30
2017年11月29日（水） 9:30-15:00
場所：コンコルドホテル浜松 2階雲海 （弊社ブースNo.C-5）
主催者URL：http://www.jacg.jp/jacg/japanese/frame_main/18/jccg-46/index.html
展示内容：膜厚測定装置
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JCCG-46 Exhibition
Dates: November 27 - 29, 2017
Place: Second floor UNKAI (Our booth No.C-5), Hotel CONCORDE Hamamatsu
Exhibition Hours：
Monday, November 27 12:00-17:30
Tuesday, November 28 9:30-17:30
Wednesday, November 29 9:30-15:00
ご多忙とは存じますが、ご来場いただければ、甚幸です。
何卒よろしくお願い申し上げます。
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電子機器社 第2営業部
TEL: 03-5781-5130
