電子機器事業本部
オプトエレクトロニクス
光学測定、膜厚測定、ナノテク領域における計測・分析のご紹介とナノテクノロジー計測ソリューション
半導体材料や各種機能性フィルムなどの膜厚、3Dセンシング技術向けLiDAR， DOE， VCSEL， Diffuserの配光特性のプロファイリング、ディスプレイの視野角特性測定、製造工程における検査用計測などのナノテクノロジー領域における計測装置・分析装置と、メーカートレーニングから得たノウハウを活かした計測ソリューションをご提供します。また、お客様の研究・開発から販売に至るあらゆる段階におけるサポートをご利用ください。
取り扱いメーカーから
ELDIM |
θ Metrisis (ThetaMetrisis) 膜厚計 |
CRAIC |
|---|---|---|
 |
 |
 |
| 独自の優れた光学技術でマイクロから大型ディスプレイまでの視野角輝度・色度を測定 | 光干渉式膜厚測定器 半導体材料、ディスプレイ材料、酸化膜、フィルムなどの厚さを瞬時に非接触・高精度で測定 |
紫外光から近赤外までの範囲で微小エリア(1μm角)の吸光度や吸収スペクトルを測定 |
| 詳細はこちら→ | 詳細はこちら→ | 詳細はこちら→ |
OAI |
ペクセル・テクノロジーズ |
Sinton |
|---|---|---|
 |
 |
 |
| ソーラーシミュレータなどの太陽電池評価システムを取り扱っております。 | 太陽電池を評価するためのソーラーシミュレータ(擬似太陽光照射装置)など | 太陽電池の特性評価装置（QSSPC法によるライフタイムの測定I-V特性の測定） |
| 詳細はこちら→ | 詳細はこちら→ | 詳細はこちら→ |
Filmetrics （フィルメトリクス） |
||
|---|---|---|
 |
||
| ※お取扱終了致しました。 | ||
| 詳細はこちら→ |
