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電子機器事業本部

オプトエレクトロニクス

オプトエレクトロニクス

光学測定、膜厚測定、ナノテク領域における計測・分析のご紹介とナノテクノロジー計測ソリューション

 

半導体材料や各種機能性フィルムなどの膜厚、3Dセンシング技術向けLiDAR, DOE, VCSEL, Diffuserの配光特性のプロファイリング、ディスプレイの視野角特性測定、製造工程における検査用計測などのナノテクノロジー領域における計測装置・分析装置と、メーカートレーニングから得たノウハウを活かした計測ソリューションをご提供します。また、お客様の研究・開発から販売に至るあらゆる段階におけるサポートをご利用ください。

 

取り扱いメーカーから

ELDIM

θ Metrisis (ThetaMetrisis) 膜厚計

CRAIC

ELDIM θ Metrisis (ThetaMetrisis) 膜厚計 CRAIC
独自の優れた光学技術でマイクロから大型ディスプレイまでの視野角輝度・色度を測定 光干渉式膜厚測定器
半導体材料、ディスプレイ材料、酸化膜、フィルムなどの厚さを瞬時に非接触・高精度で測定
紫外光から近赤外までの範囲で微小エリア(1μm角)の吸光度や吸収スペクトルを測定
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OAI

ペクセル・テクノロジーズ

Sinton

OAI ペクセル・テクノロジーズ Sinton
ソーラーシミュレータなどの太陽電池評価システムを取り扱っております。 太陽電池を評価するためのソーラーシミュレータ(擬似太陽光照射装置)など 太陽電池の特性評価装置(QSSPC法によるライフタイムの測定I-V特性の測定)
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Filmetrics (フィルメトリクス)

Filmetrics (フィルメトリクス)
※お取扱終了致しました。
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製品分野・用途などから

  • ディスプレイ評価装置
  • 太陽電池評価・特性測定装置
  • 顕微分光システムおよび顕微鏡
  • 膜厚測定
  • シミュレーションソフトウェア
  • フィルムインライン膜厚モニター
  • 板厚測定
  • シリコンウェーハの厚さ測定
  • 分光反射率の測定
  • 分光透過率の測定
  • ラマン分光計
  • 顕微分光システム
製品情報
環境計測機器・バイオ機器
EMC・アンテナ計測
オプトエレクトロニクス
SPEAG / ZMT
AV計測器
サポート・サービス
トータルサポート
高周波(EMC)製品サポート
SAR測定サービス
アンテナ3次元放射パターン測定サービス
材料測定 誘電率測定サービス
電磁界シミュレーション解析サービス
デモ/トレーニング
海外進出支援
VGEL(Shenzhen)Company Limited
新着情報
新着情報一覧
2019.05.08
日本地球惑星科学連合2019年大会(JpGU2019)出展のお知らせ
2019.04.01
電子機器事業の事業譲渡のお知らせ
2018.12.20
マイクロウェーブ展2018に出展致しました
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